Реферат: Методика анализа, прогнозирования и повышения надежности изделий микроэлектроники, работающих в условиях динамически изменяющихся знакопеременных нагрузок Назначение
МОСКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИСЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ
имени Н.Э. Баумана
КАЛУЖСКИЙ ФИЛИАЛ
Методика анализа, прогнозирования и повышения надежности изделий микроэлектроники, работающих в условиях динамически изменяющихся знакопеременных нагрузок
Назначение: Производство и эксплуатация полупроводниковых приборов и интегральных микросхем автомобильной электроники и приборостроения.
^ Научно-техническое описание: В результате исследования установлен один из механизмов деградации полупроводниковых структур, обусловленный возникновением дефектов кристаллической структуры материала под действием знакопеременных нагрузок. Предложена математическая модель описывающая изменение параметров приборов, обусловленных изменением температуры в диапазоне рабочих нагрузок и на ее основе разработана методика анализа среднего времени безотказной работы изделий автомобильной электроники по виду их функциональных характеристик.
- Определены и классифицированы причины параметрических отказов датчиков давления;
- Разработана методика контроля параметров интегральных измерительных тензо-преобразователей датчиков давления;
- Разработана и апробирована новая методика анализа, прогнозирования и повышения надежности изделий микроэлектроники.
- Разработаны и внедрены рекомендации на предприятиях автомобильной электроники «Автоэлектроника», «Автел» и «Автоприбор» в городе Калуге.
0,48108 Па
0,72108 Па
0,96108 Па
1,20108 Па
1,44108 Па
1,68108 Па
1,92108 Па
2,16108 Па
^ Схема распределения нагрузок и значения упругих напряжений в структурах интегральных измерительных тензопреобразователей
Преимущества: Разработанная методика впервые позволила осуществлять неразрушающий контроль качества и надежности полупроводниковых приборов работающих в условиях знакопеременных механических нагрузок. Кроме того, предложенные методы измерений позволяют определить наличие наноразмерных дефектных структур, определяющих потребительские свойства изделий в полупроводниковом материале электронных приборов.
248600, г. Калуга,
ул. Баженова, д. 2
Тел.: 8(4842) 79-78-28
Факс 8(4842) 79-78-28
e-mail: nis@bmstu-kaluga.ru
www.bmstu-kaluga.ru
еще рефераты
Еще работы по разное
Реферат по разное
Від 23 січня 2007 р
18 Сентября 2013
Реферат по разное
Україна валківська районна державна адміністрація
18 Сентября 2013
Реферат по разное
Кваліфікаційна характеристика Практичний психолог Посадові обов’язки
18 Сентября 2013
Реферат по разное
Вищий господарський суд україни
18 Сентября 2013